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  • MProbe系列膜厚測量儀(測量厚度1nm~1.8mm)
    MProbe系列膜厚測量儀(測量厚度1nm~1.8mm)
    膜厚測量儀(測量厚度1nm~1.8mm)美國Semisonsoft公司MProbe系列薄膜測厚儀測量厚度可以低至1nm☁│,厚至1.8mm☁│,埃級解析度☁│,非接觸式無損快速測量₪₪。廣泛應用在各種生產或研究中☁│,比如測量薄膜太陽能電池的CIGS層☁│,觸控式螢幕中的ITO層等₪₪。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量₪₪。
    型號•·₪:MProbe系列    廠商性質•·₪:代理商
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