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Product catalog

鐳射測量裝置

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上海昊量白光干涉儀優勢及應用領域

光纖法布里-珀luo干涉儀
光纖法布里-珀luo干涉儀系列產品基於具有平滑✘╃↟◕▩、均勻間隔傳輸峰的固定干涉儀設計↟↟•☁。FFP 的設計簡潔優雅的關鍵在於其無透鏡全光纖結構↟↟•☁。沒有準直光學器件或透鏡₪✘，消除了其他法布里-珀羅元件技術的缺陷₪✘，包括未對準✘╃↟◕▩、環境敏感性和外來模式↟↟•☁。FFP 波器遵循 Airy 函式↟↟•☁。工程師可以將其設計到 OEM 系統中₪✘，因為他們知道它將提供非常接近理論數學模型的結果↟↟•☁。

型號│₪✘：廠商性質│₪✘：代理商
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皮米級絕對距離測量干涉儀
皮米級絕對距離測量干涉儀透過將可調鐳射器的頻率鎖定到F-P干涉儀的的諧振頻率上₪✘，將干涉儀的位移測量轉換為頻率變化的測量↟↟•☁。當F-P腔長在變化時₪✘，其諧振峰的頻率也在發生變化₪✘，透過測量初始腔長₪✘，初始頻率和頻率變化₪✘，就可實現測量腔長↟↟•☁。

型號│₪✘：廠商性質│₪✘：代理商
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多波長動態干涉儀
Kaleo MultiWAVE多波長動態干涉儀同時可提供媲美Fizeau干涉儀測量精度₪✘，及動態干涉儀的抗震效能↟↟•☁。

型號│₪✘：廠商性質│₪✘：代理商
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太赫茲掃描干涉儀
太赫茲掃描干涉儀主要用於測量窄帶太赫茲輻射的波長和強度分佈₪✘，同時也可用於脈衝和連續窄帶太赫茲輻射源↟↟•☁。TSFPI由兩個半透明平行矽鏡組成₪✘，其中一個安裝在電機驅動的線性致動器上↟↟•☁。

型號│₪✘：廠商性質│₪✘：代理商
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KALEO多波長鐳射干涉儀模組
KALEO套件多波長鐳射干涉儀模組是用於光學計量的模組化系統↟↟•☁。它由多種相互相容的模組組合而成₪✘，可讓使用者搭建一個經濟有效₪✘，體積緊湊且易於使用的完整光學測試系統↟↟•☁。

型號│₪✘：KALEO 廠商性質│₪✘：代理商
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點衍射鐳射干涉儀
點衍射鐳射干涉儀: 絕對測量精度(Peak-to-valley): ± 0.6 nm (λ/1000) 解析度(Peak-to-valley): 0.05 nm (λ/12000) 波前重複精度(RMS): 0.23 nm (λ/2800)

型號│₪✘：廠商性質│₪✘：代理商
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quDIS皮米精度位移鐳射干涉儀
昊量光電推出的皮米精度位移干涉測量儀quDIS是對奈米級別的位移波動進行量測的理想儀器₪✘，基於其*的測量原理₪✘，相對距離的重複精度達到了50皮米↟↟•☁。quDIS可同時支援三個測量通道₪✘，使其可以適用於任意的多軸測量中↟↟•☁。quDIS在原理上同樣採用鐳射干涉法₪✘，不過與傳統鐳射干涉儀相比₪✘，其集成了法珀腔（Reference cavity）及飽和吸收氣室（GC）作為頻率校準參考₪✘，透過皮米精度位移鐳射干涉儀

型號│₪✘：quDIS 廠商性質│₪✘：代理商
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Xper WLI白光干涉儀
Xper WLI 是一款用於對各種精密器件及材料表面進行亞奈米級測量的檢測儀器↟↟•☁。它是以白光干涉技術為原理✘╃↟◕▩、結合精密Z向掃描模組✘╃↟◕▩、3D 建模演算法等對器件表面進行非接觸式掃描並建立表面3D影象₪✘，透過系統軟體對器件表面3D影象進行資料處理與分析₪✘，並獲取反映器件表面質量的2D✘╃↟◕▩、3D引數₪✘，從而實現器件表面形貌3D測量的光學檢測儀器↟↟•☁。白光干涉儀

型號│₪✘：Xper WLI 廠商性質│₪✘：代理商
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干涉儀.邁克爾遜干涉儀 FTIR用
在一個臂上增加一個移動反光鏡以完成干涉儀₪✘，並允許光路差在零OPD附近變化↟↟•☁。堅固的結構和對準的特點₪✘，意味著 INT 05 系列干涉儀很適合您更高精度的近紅外分析儀的應用↟↟•☁。邁克爾遜干涉儀 FTIR用

型號│₪✘：干涉儀. 廠商性質│₪✘：代理商
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高精度位移測量儀-鐳射干涉儀
昊量光電推出的PICOSCALE位移測量儀產品是基於鐳射干涉方法設計的非接觸式位移和振動測量裝置↟↟•☁。因為不需要物理接觸₪✘，所以測量不會影響物體↟↟•☁。這尤其適用於較小的物體₪✘，它們的動力學很容易受到傳統測量探頭的影響↟↟•☁。微位移測量儀廣泛應用於定位技術中₪✘，可以在pm解析度下位移跟蹤定位↟↟•☁。高精度位移測量儀-鐳射干涉儀

型號│₪✘：廠商性質│₪✘：代理商
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λ/1000超高精度鐳射干涉儀
愛沙尼亞Difrotec公司的鐳射干涉儀是市場上高精度干涉儀的*產品₪✘，測量精度可達0.6nm（λ/1000）. 其*產品D7鐳射干涉儀採用點衍射技術₪✘，主要用於高精度的表面（平面,球面,非球面,自由曲面）檢測及透射波前檢測↟↟•☁。λ/1000超高精度鐳射干涉儀

型號│₪✘：廠商性質│₪✘：代理商
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