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MPROBE 70線上薄膜厚度實時測量儀系統
線上薄膜厚度實時測量儀系統-MPROBE 70是一種高效能厚度測量系統↟₪。線上薄膜厚度實時測量儀-MPROBE 70基於光譜反射率和/或透射率測量☁▩◕✘▩，專為產線的連續測量而設計

型號│▩·☁：MPROBE 70 廠商性質│▩·☁：代理商
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MPROBE 60薄膜厚度均勻度線上測量系統
薄膜厚度均勻度線上測量系統-MPROBE 60☁▩◕✘▩，MProbe 60 是一站式系統☁▩◕✘▩，專為研發中心和小型製造而設計↟₪。它結合了測量厚度/n&k 與自動化小點測量的能力↟₪。MProbe 60 已應用於研發奈米技術中心↟₪。

型號│▩·☁：MPROBE 60 廠商性質│▩·☁：代理商
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Vcsel鐳射器光束線上測量系統☁▩◕✘▩，3D人臉識別
Vcsel鐳射器光束線上測量系統☁▩◕✘▩，3D人臉識別,CinCam CMOS-1.001-Nano PlusX-M線上測量系統為德國CINOGY為Vcsel鐳射器發散角↟·││☁、光斑尺寸↟·││☁、功率等引數測量設計生產的線上測量系統☁▩◕✘▩，該系統為全自動的線上測量系統↟₪。目前我們主要的客戶有為Apple手機3D人臉識別代工的深圳意法半導體（ST Microelectronics）等↟₪。

型號│▩·☁：廠商性質│▩·☁：代理商
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